REAL-d

Spektroellipszometria a mikroelektronikai rétegminősítésben

Petrik, Péter (2015) Spektroellipszometria a mikroelektronikai rétegminősítésben. Doctor of the Hung. Acad. of Sci. thesis, MTA Természettudományi Kutatóközpont.

[img]
Preview
Text (Doktori értekezés tézisei)
PetrikPeter_tezisek.pdf

Download (265kB) | Preview
[img]
Preview
Text (A doktori mű)
PetrikPeter_doktori_mu.pdf

Download (11MB) | Preview
[img]
Preview
Text (Ábrahám György bírálata)
PetrikPeter_oppvel_ AbrahamGyorgy.pdf

Download (281kB) | Preview
[img]
Preview
Text (Jakab László bírálata)
PetrikPeter_oppvel_JakabLaszlo.pdf

Download (195kB) | Preview
[img]
Preview
Text (Tóth Zsolt bírálata)
PetrikPeter_oppvel_TothZsolt.pdf

Download (109kB) | Preview
[img]
Preview
Text (Válasz Ábrahám György bírálatára)
Valasz_Abraham_Gyorgynek.pdf

Download (835kB) | Preview
[img]
Preview
Text (Válasz Jakab László bírálatára)
Valasz_Jakab_Laszlonak.pdf

Download (775kB) | Preview
[img]
Preview
Text (Válasz Tóth Zsolt bírálatára)
Valasz_Toth_Zsoltnak.pdf

Download (1MB) | Preview
[img]
Preview
Text (Bírálóbizottság)
Biralobizottsag_Petrik Peter.pdf

Download (61kB) | Preview
[img]
Preview
Text (A bírálóbizottság értékelése)
Ertekeles_PetrikPeter.pdf

Download (142kB) | Preview
Item Type: Thesis (Doctor of the Hung. Acad. of Sci.)
Additional Information: Doktori pályázat eljárásra bocsátva (2015. április 17.) Nyilvános védés engedélyezve (2015. november 12.) Nyilvános védés kitűzve (2015. november 12.) A nyilvános védés időpontja: 2015. december 16. 14 óra A nyilvános védés helye: MTA Székháza, Nagyterem MTA doktora cím odaítélve (2016. február 19.)
Subjects: T Technology / alkalmazott, műszaki tudományok > T2 Technology (General) / műszaki tudományok általában
Depositing User: xErzsébet xNyilas
Date Deposited: 22 Apr 2015 00:24
Last Modified: 30 May 2019 13:25
URI: http://real-d.mtak.hu/id/eprint/779

Actions (login required)

Edit Item Edit Item